Neu Erschienen: 09.03.2024 Grafik für das Drucken der Seite Abbildung von Xia / Rangelow | Active Probe Atomic Force Microscopy | 1. Auflage | 2024 | beck-shop.de
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Xia / Rangelow / Youcef-Toumi

Active Probe Atomic Force Microscopy

A Practical Guide on Precision Instrumentation

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2024

366 S. XXIV, 366 p. 138 illus., 125 illus. in color..

In englischer Sprache

Springer International Publishing. ISBN 978-3-031-44233-9

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