Grafik für das Drucken der Seite Abbildung von Wee | Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials | 1. Auflage | 2022 | beck-shop.de

Wee

Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials

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Fachbuch

Buch. Softcover

2022

208 S.

In englischer Sprache

Wiley-VCH. ISBN 978-3-527-34951-7

Format (B x L): 17 x 24.4 cm

Gewicht: 369 g

Produktbeschreibung

Dieses Buch ist eine aktualisierte Einführung in die Anwendung der spektrometrischen Ellipsometrie mit ihrem praktischen Einsatz bei der Untersuchung von Grenzflächeneigenschaften, Elektronenstrukturen und Quasiteilcheneigenschaften verschiedener Klassen von Dünnschichtmaterialien.

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