Pretsch / Bühlmann / Badertscher

Spektroskopische Daten zur Strukturaufklärung organischer Verbindungen

6. Aufl. 2020

Springer

ISBN 978-3-662-60949-1

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Bibliografische Daten

Fachbuch

Buch. Softcover

6. Aufl. 2020. 2020

1 s/w-Abbildung. Book + eBook.

Format (B x L): 15.4 x 23.3 cm

Gewicht: 740

Verlag: Springer

ISBN: 978-3-662-60949-1

Produktbeschreibung

Die Grundlagen der spektroskopischen Methoden lernt man im Unterricht. Für die Interpretation der verschiedenen Spektren werden jedoch umfangreiche Referenzdaten und empirische Regeln benötigt. Da die kombinierte Interpretation der Spektren verschiedener Methoden vorteilhaft ist, stellt das vorliegende Buch Referenzmaterial für NMR-, IR-, UV/Vis- und Massenspektren zusammen. Es lässt sich auf dreierlei Weise nutzen: - als gut verständliches und kompaktes Begleitmaterial, - als Ergänzung zum Verständnis ausführlicher Lehrbücher, - als leicht zu handhabendes Nachschlagewerk. Der langjährige Erfolg des in insgesamt 7 Sprachen erschienenen Werkes belegt die Nützlichkeit dieser Darstellungsweise. Der Inhalt der vorliegenden sechsten deutschen Auflage enthält neu Referenzdaten für die Interpretation von 15N- und 29Si-Spektren. Zusätzlich wurden die Fragmentierungsregeln für die Massenspektrometrie mit seit kurzem zugänglicher Information für die Interpretation von MS/MS-Spektren nach weicher Ionisation erweitert. Über die Autoren: Alle drei Autoren, Ernö Pretsch, Philippe Bühlmann und Martin Badertscher, haben an der ETH Zürich studiert, wo im Chemiestudium der Kombination der verschiedenen Methoden traditionell großes Gewicht beigemessen wird. Sie haben langjährige Erfahrung in der Anwendung und der Lehre der hier behandelten spektroskopischen Methoden.

Autorinnen und Autoren

Kundeninformationen

Die aktualisierte 6. Auflage des bewährten Nachschlagewerks für Studenten und Fachleute. Mit Referenzdaten und Regeln für die Interpretation von NMR-, IR-, UV/Vis- und Massenspektren. Enthält nun auch Referenzdaten für die 15N- und 29Si-NMR-Spektroskopie, sowie ESI-MS/MS Fragmentierungsregeln.

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