Erschienen: 13.05.2016 Abbildung von Kleinert | Defect Sizing Using Non-destructive Ultrasonic Testing | 1. Auflage | 2016 | beck-shop.de

Kleinert

Defect Sizing Using Non-destructive Ultrasonic Testing

Applying Bandwidth-Dependent DAC and DGS Curves

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Buch. Hardcover

1st ed. 2016. 2016

xviii, 118 S. 7 s/w-Abbildungen, 83 Farbabbildungen, Bibliographien.

In englischer Sprache

Springer. ISBN 978-3-319-32834-8

Format (B x L): 15,5 x 23,5 cm

Gewicht: 375 g

Produktbeschreibung

This book presents a precise approach for defect sizing using ultrasonics. It describes an alternative to the current European and American standards by neglecting their limitations. The approach presented here is not only valid for conventional angle beam probes, but also for phased array angle beam probes. It introduces an improved method which provides a significant productivity gain and calculates curves with high accuracy. Its content is of interest to all those working with distance gain size (DGS) methods or are using distance ampllitude correction (DAC) curves.

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