Du / Zhang / Li

Thermal Reliability of Power Semiconductor Device in the Renewable Energy System

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Fachbuch

Buch. Hardcover

2022

xvi, 172 S. 27 s/w-Abbildungen, 94 Farbabbildungen, Bibliographien.

In englischer Sprache

Springer. ISBN 9789811931314

Format (B x L): 15,5 x 23,5 cm

Gewicht: 458 g

Das Werk ist Teil der Reihe: CPSS Power Electronics Series

Produktbeschreibung

This book focuses on the thermal reliability of power semiconductor device by looking at the failure mechanism, thermal parameters monitoring, junction temperature estimation, lifetime evaluation, and thermal management. Theoretical analysis and experimental tests are presented to explain existing reliability improvement techniques. This book is a valuable reference for the students and researchers who pay attention to the thermal reliability design of power semiconductor device.