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Baumann

Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen

Simulation mit PSPICE

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3. Aufl. 2023. 2023

217 S. XIV, 217 S. 225 Abbildungen, 15 Abbildungen in Farbe..

Springer Gabler. ISBN 978-3-658-40957-9

Produktbeschreibung

Ergänzend zu Vorlesung, zu Rechenübungen und insbesondere zum Laborpraktikum im Lehrfach Elektronik werden Analyseverfahren zur Extraktion von SPICE-Modellparametern ausgewählter Halbleiterbauelemente vorgestellt. Für Bauelemente aus der DEMO-Version des Programms OrCAD-PSPICE wird aufgezeigt, wie man deren statische und dynamische elektrische Modellparameter mit PSPICE-Analysen wieder zurück gewinnen kann. Diese Parameterermittlung wird vorgestellt für Schaltdiode, Kapazitätsdiode, npn-Bipolartransistor, N-Kanal-Sperr- Schicht-Feldeffekttransistor, CMOS-Array-Transistoren, Operationsverstärker und Optokoppler. Im abschließenden neuen Kapitel wird die Ermittlung der Modell- Parameter von Sensoren zur Erfassung von Temperatur, Licht, Feuchte, Kraft, Schall, Gaskonzentration und pH-Wert behandelt.

Der Inhalt

Halbleiterdioden
Bipolartransistoren
Sperrschicht-Feldeffekttransistoren
MOS-Feldeffekttransisotoren
Leistungs-MOS-Feldeffekttransistor
Operationsverstärker
Optokoppler
NTC- und PTC-Sensoren
RGB-Farbsensor
Piezoelektrische Summer
Ultraschallwandler
Gassensoren
Ionensensitiver Feldeffekttransistor

Die Zielgruppen

Studierende der Studiengänge Elektrotechnik sowie Technische und Angewandte Physik an Fachhochschulen und Technischen Universitäten
Ingenieure und Physiker in der Praxis

Der Autor

Prof. Dr.-Ing. habil. Peter Baumann arbeitete als Hochschullehrer für Elektronik an den Hochschulen in Mittweida und Zwickau und war als Lehrbeauftragter für Sensorschaltungen an der Hochschule Bremen tätig.