Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen

Ergänzend zu Vorlesung, zu Rechenübungen und insbesondere zum Laborpraktikum im Lehrfach Elektronik werden Analyseverfahren zur Extraktion von SPICE-Modellparametern ausgewählter Halbleiterbauelemente vorgestellt. Für Bauelemente aus der DEMO-Version des Programms OrCAD-PSPICE wird aufgezeigt, wie man deren statische und dynamische elektrische Modellparameter mit SPICE-Analysen wieder zurück gewinnen kann. Diese Parameterermittlung wird vorgestellt für Schaltdiode, Kapazitätsdiode, Z-Diode, npn-Bipolartransistor, N-Kanal-Sperrschicht-Feldeffekttransistor, CMOS-Array-Transistoren, Operationsverstärker und Optokoppler. Im abschließenden, neuen Kapitel wird die Ermittlung der Modellparameter von Sensoren zur Erfassung von Temperatur, Licht, Feuchte, Kraft und Schall behandelt. Der Inhalt - Halbleiterdioden - Bipolartransistoren - Sperrschicht-Feldeffekttransistoren - MOS-Feldeffekttransisotoren - Leistungs-MOS-Feldeffekttransistor - Operationsverstärker - Optokoppler - NTC- und PTC-Sensoren - RGB-Farbsensor - Piezoelektrische Summer - Ultraschallwandler Die Zielgruppen - Studierende der Studiengänge Elektrotechnik sowie Technische und Angewandte Physik an Fachhochschulen und Technischen Universitäten - Ingenieure und Physiker in der Praxis Der AutorProf. (em.) Dr.-Ing. habil. Peter Baumann ist Lehrbeauftragter für das Modul Ausgewählte Kapitel der Elektrotechnik an der Hochschule Bremen.