Erschienen: 21.03.2013 Abbildung von Welker | Höchstauflösende Kraftmikroskopie mit subatomar definierten Bindungszuständen | 1. Auflage | 2013 | 30 | beck-shop.de

Welker

Höchstauflösende Kraftmikroskopie mit subatomar definierten Bindungszuständen

lieferbar, ca. 10 Tage

Buch. Softcover

2013

146 S. 4 s/w-Abbildungen, 53 Farbabbildungen

Universitätsverlag Regensburg. ISBN 978-3-86845-096-5

Format (B x L): 17 x 24 cm

Gewicht: 368 g

Das Werk ist Teil der Reihe: Dissertationsreihe Physik; 30

Produktbeschreibung

Rastersondenmikroskopie ist heute eine wichtige analytische Methode in der Oberflächenphysik. Im Rastersondenmikroskop wird eine atomar scharfe Spitze in einem Abstand von wenigen hundert Pikometer über eine Probe geführt und die Wechselwirkung zwischen Spitze und Probe gemessen. Hochauflösende Rasterkraftmikroskopie ist in der Lage subatomare Strukturen abzubilden. In dieser Arbeit wird eine Methode zur Charakterisierung des Bindungszustands der Spitze vorgestellt. Dafür wird die Entwicklung der chemischen Bindungskraft zwischen einem Wolfram-Spitzenatom und einem Kohlenmonoxid-Molekül quantitativ untersucht. Je nach Orientierung der Wolfram-Spitze zeigt sich eine subatomare Winkelabhängigkeit der Bindungskraft. Die Orientierung der Spitze kann verändert werden, um einen Bindungszustand mit einer bestimmten Symmetrie zu erhalten. Mit dieser Methode wird der Einfluss des Bindungszustands auf die Kraftmessung an einer Silizium-Probe untersucht.

Top-Produkte dieser Kategorie

Autoren

  • Rezensionen

    Dieses Set enthält folgende Produkte:
      Auch in folgendem Set erhältlich:
      • nach oben

        Ihre Daten werden geladen ...