Erschienen: 21.10.2010 Abbildung von Stanisavljevic / Schmid / Leblebici | Reliability of Nanoscale Circuits and Systems | 1st Edition. | 2010 | Methodologies and Circuit Arch...

Stanisavljevic / Schmid / Leblebici

Reliability of Nanoscale Circuits and Systems

Methodologies and Circuit Architectures

1st Edition. 2010. Buch. xxvii, 195 S. Bibliographien. Hardcover

Springer. ISBN 978-1-4419-6216-4

Format (B x L): 15,5 x 23,5 cm

Gewicht: 502 g

In englischer Sprache

Produktbeschreibung

This book is intended to give a general overview of reliability, faults, fault models, nanotechnology, nanodevices, fault-tolerant architectures and reliability evaluation techniques. Additionally, the book provides an in depth state-of-the-art research results and methods for fault tolerance as well as the methodology for designing fault-tolerant systems out of highly unreliable components.

Gesamtwerk

Die 8. Auflage ist wieder auf sechs Bände angelegt. Darin finden sich übersichtlich und in systematischer Gliederung Vertragsmuster aus der Feder erfahrener Experten. Jedem dieser Muster folgen Anmerkungen, mit denen der dem Vertragsentwurf zu Grunde liegende Sachverhalt und die Gründe für die Wahl des spezifischen Formulars erläutert werden.

Autoren

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