Ankündigung Erscheint vsl. Oktober 2020 Abbildung von Schmidt | Praxis der Rasterelektronenmikroskopie und Mikrobereichsanalyse | 2., vollständig neubearbeitete Auflage | 2020

Schmidt

Praxis der Rasterelektronenmikroskopie und Mikrobereichsanalyse

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inkl. Mwst.

2., vollständig neubearbeitete Auflage 2020. Buch. 800 S. Softcover

expert-verlag GmbH. ISBN 978-3-8169-1597-3

Format (B x L): 14.8 x 21 cm

Gewicht: 1292 g

Das Werk ist Teil der Reihe: Edition expertsoft Kontakt & Studium

Produktbeschreibung

Der Themenband vermittelt Kenntnisse über den Aufbau und die Funktionsweise von Rasterelektronenmikroskopen, informiert über die Vielfalt der Abbildungsmöglichkeiten, gibt praxisbezogen Hinweise auf die Optimierung der Geräteeinstellung für eine optimale Abbildung, führt in die Verfahren zur qualitativen und quantitativen Mikrobereichsanalyse ein, gibt eine Übersicht über Verfahren zur Oberflächenanalytik, informiert über alternative Rastermethoden, gibt Tipps für die Präparation und Beschichtung von Proben, zeigt Einsatzmöglichkeiten der Rasterelektronenmikroskopie für Schadensfalluntersuchungen an Metallen, Keramiken und Polymeren, informiert über die Möglichkeiten der Rasterelektronenmikroskopie in der Halbleitertechnologie und informiert über Zusatzgeräte zur Erweiterung des Einsatzbereiches von REM.

Autoren

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