Erschienen: 17.09.1998 Abbildung von Reimer | Scanning Electron Microscopy | 1998 | Physics of Image Formation and... | 45

Reimer

Scanning Electron Microscopy

Physics of Image Formation and Microanalysis

lieferbar, ca. 4 Wochen

213,99 €

inkl. Mwst.

1998. Buch. xiv, 529 S. Bibliographien. Hardcover

Springer. ISBN 978-3-540-63976-3

Format (B x L): 15,5 x 23,5 cm

Gewicht: 2060 g

In englischer Sprache

Das Werk ist Teil der Reihe: Springer Series in Optical Sciences; 45

Produktbeschreibung

Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information.

Gesamtwerk

Die 8. Auflage ist wieder auf sechs Bände angelegt. Darin finden sich übersichtlich und in systematischer Gliederung Vertragsmuster aus der Feder erfahrener Experten. Jedem dieser Muster folgen Anmerkungen, mit denen der dem Vertragsentwurf zu Grunde liegende Sachverhalt und die Gründe für die Wahl des spezifischen Formulars erläutert werden.

Autoren

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