Erschienen: 18.02.2015 Abbildung von Parvel / Wu | Advanced Measurement and Test IV | 1. Auflage | 2015 | Volume 1083 | beck-shop.de

Parvel / Wu

Advanced Measurement and Test IV

Selected, peer reviewed papers from the 2014 4th International Conference on Advanced Measurement and Test, (AMT 2014), November 1-2, 2014, Wuhan, China

lieferbar, ca. 10 Tage

Buch. Softcover

2015

230 S.

In englischer Sprache

Trans Tech Publications. ISBN 978-3-03835-374-4

Format (B x L): 17 x 24 cm

Gewicht: 600 g

Das Werk ist Teil der Reihe: Advanced Materials Research; Volume 1083

Produktbeschreibung

Collection of selected, peer reviewed papers from the 2014 4th International Conference on Advanced Measurement and Test, (AMT 2014), November 1-2, 2014, Wuhan, China.
The 37 papers are grouped as follows:
Chapter 1: Materials Science;
Chapter 2: Material Processing and Testing Technology;
Chapter 3: Monitoring, Detection, Testing and Measurement Systems and Technologies

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