Erschienen: 06.01.2014 Abbildung von Murphy | Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology XV | 1. Auflage | 2014 | Volumes 205-206 | beck-shop.de

Murphy

Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology XV

Selected, peer reviewed papers from the 15th Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology (GADEST 2013), September 22-27, 2013, Oxford, UK

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Online-Produkt

Digital

2014

520 S.

In englischer Sprache

Trans Tech Publications. ISBN 978-3-03795-540-6

Format (B x L): 12,5 x 14,2 cm

Gewicht: 200 g

Das Werk ist Teil der Reihe: Solid State Phenomena; Volumes 205-206

Produktbeschreibung

The book includes both fundamental and technological aspects of defects in semiconductor materials and devices, including photovoltaics.
Volume is indexed by Thomson Reuters CPCI-S (WoS).
The 74 papers are grouped as follows: I. Defect engineering in silicon solar cells; II. Structural and production issues in cast silicon materials for solar cells; III. Characterisation of silicon for solar cells; IV. Intrinsic point defects in silicon; V. Light impurities in silicon-based materials; VI. Metals in silicon: fundamental properties and gettering; VII. Extended and implantation-related defects in silicon; VIII. Surfaces, passivation and processing; IX. Germanium-based devices and materials; X. Semiconductors other than silicon and germanium; XI. Nanostructures and new materials systems.

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