Erschienen: 30.03.2016 Abbildung von Holt / Yacobi | Extended Defects in Semiconductors | 2007

Holt / Yacobi

Extended Defects in Semiconductors

Electronic Properties, Device Effects and Structures

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inkl. Mwst.

2007. Buch. 644 S. Hardcover

Cambridge University Press. ISBN 978-0-521-81934-3

Format (B x L): 18,2 x 25 cm

In englischer Sprache

Produktbeschreibung

The elucidation of the effects of structurally extended defects on electronic properties of materials is especially important in view of the current advances in electronic device development that involve defect control and engineering at the nanometer level. This book surveys the properties, effects, roles and characterization of extended defects in semiconductors. The basic properties of extended defects (dislocations, stacking faults, grain boundaries, and precipitates) are outlined, and their effect on the electronic properties of semiconductors, their role in semiconductor devices, and techniques for their characterization are discussed. These topics are among the central issues in the investigation and applications of semiconductors and in the operation of semiconductor devices. The authors preface their treatment with an introduction to semiconductor materials and conclude with a chapter on point defect maldistributions. This text is suitable for advanced undergraduate and graduate students in materials science and engineering, and for those studying semiconductor physics.

Gesamtwerk

Die 8. Auflage ist wieder auf sechs Bände angelegt. Darin finden sich übersichtlich und in systematischer Gliederung Vertragsmuster aus der Feder erfahrener Experten. Jedem dieser Muster folgen Anmerkungen, mit denen der dem Vertragsentwurf zu Grunde liegende Sachverhalt und die Gründe für die Wahl des spezifischen Formulars erläutert werden.

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