Erschienen: 01.10.2016 Abbildung von Grasser | Bias Temperature Instability for Devices and Circuits | Softcover reprint of the original 1st ed. 2014 | 2016

Grasser

Bias Temperature Instability for Devices and Circuits

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inkl. Mwst.

Softcover reprint of the original 1st ed. 2014 2016. Buch. xi, 810 S. 283 s/w-Abbildungen, 318 Farbabbildungen, 22 s/w-Tabelle, Bibliographien. Softcover

Springer. ISBN 978-1-4939-5529-9

Format (B x L): 15,5 x 23,5 cm

Gewicht: 1429 g

In englischer Sprache

Produktbeschreibung

This book provides a single-source reference to one of the more challenging reliability issues plaguing modern semiconductor technologies, negative bias temperature instability. Readers will benefit from state-of-the art coverage of research in topics such as time dependent defect spectroscopy, anomalous defect behavior, stochastic modeling with additional metastable states, multiphonon theory, compact modeling with RC ladders and implications on device reliability and lifetime.

Gesamtwerk

Die 8. Auflage ist wieder auf sechs Bände angelegt. Darin finden sich übersichtlich und in systematischer Gliederung Vertragsmuster aus der Feder erfahrener Experten. Jedem dieser Muster folgen Anmerkungen, mit denen der dem Vertragsentwurf zu Grunde liegende Sachverhalt und die Gründe für die Wahl des spezifischen Formulars erläutert werden.

Autoren

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