Erschienen: 30.09.2002 Abbildung von Adams | High Performance Memory Testing | 2002

Adams

High Performance Memory Testing

Design Principles, Fault Modeling and Self-Test

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181,89 €

inkl. Mwst.

2002. Buch. xiv, 250 S. Bibliographien. Hardcover

Springer. ISBN 978-1-4020-7255-0

Format (B x L): 15,5 x 23,5 cm

Gewicht: 1220 g

In englischer Sprache

Das Werk ist Teil der Reihe: Frontiers in Electronic Testing; 22A

Produktbeschreibung

Are memory applications more critical than they have been in the past? Yes, but even more critical is the number of designs and the sheer number of bits on each design. It is assured that catastrophes, which were avoided in the past because memories were small, will easily occur if the design and test engineers do not do their jobs very carefully.
High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling and Self Test is based on the author's 20 years of experience in memory design, memory reliability development and memory self test.

High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling and Self Test is written for the professional and the researcher to help them understand the memories that are being tested.

Gesamtwerk

Die 8. Auflage ist wieder auf sechs Bände angelegt. Darin finden sich übersichtlich und in systematischer Gliederung Vertragsmuster aus der Feder erfahrener Experten. Jedem dieser Muster folgen Anmerkungen, mit denen der dem Vertragsentwurf zu Grunde liegende Sachverhalt und die Gründe für die Wahl des spezifischen Formulars erläutert werden.

Autoren

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